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ISO/IEC 9592-3-1997 信息技术计算机图形和图像处理程序员分级交互图形系统(PHIGS)第3部分:存档文件正文编码规范

作者:标准资料网 时间:2024-05-10 19:56:26  浏览:8158   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Informationtechnology-Computergraphicsandimageprocessing-Programmer'sHierarchicalInteractiveGraphicsSystem(PHIGS)-Part3:Specificationforclear-textencodingofarchivefile
【原文标准名称】:信息技术计算机图形和图像处理程序员分级交互图形系统(PHIGS)第3部分:存档文件正文编码规范
【标准号】:ISO/IEC9592-3-1997
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:1997-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(ISO)
【起草单位】:ISO/IECJTC1
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:三维图形系统;信息交流;定义;数据处理;数据处理;数据传送;信息交换;计算机制图
【英文主题词】:Computergraphics;Datahandling;Dataprocessing;Datatransfer;Definition;Definitions;Informationexchange;Informationinterchange;PHIGS
【摘要】:ThispartofISO/IEC9592specifiesaclear-textencodingofthePHIGSarchivefile.Foreachofthearchivefileele-mentsspecifiedinISO/IEC9592-2,acleartextencodingisspecified.ThispartofISO/IEC9592specifiestheoverallformatofthearchivefileandthemeansbywhichcommentsmaybeinterspersedinthearchivefile.ThisencodingofthePHIGSarchivefileallowsarchivefilestobecreatedandmaintainedinaformwhichissimpletotype,easytoeditandconvenienttoread.
【中国标准分类号】:L81
【国际标准分类号】:35_140
【页数】:43P;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:硅片直径测量方法 光学投影法
英文名称:Silicon slices and wafers-Measuring of diameter-Optical projecting method
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属
ICS分类: 冶金 >> 金属材料试验 >> 金属材料试验综合
替代情况:被GB/T 14140-2009代替
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1993-02-06
实施日期:1993-10-01
首发日期:1993-02-06
作废日期:2010-06-01
主管部门:国家标准化管理委员会
归口单位:全国半导体材料和设备标准化技术委员会
起草单位:洛阳单晶硅厂
出版日期:1900-01-01
页数:4页
适用范围

本标准规定了用光学投影仪测量硅片直径的方法。本标准适用于测量圆形硅片的直径。测量范围为声φ40~φ100mm本标准不适用于测量硅片的不圆度。本标准用作仲裁测量方法。

前言

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所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属 冶金 金属材料试验 金属材料试验综合
【英文标准名称】:LappedFlanges,PlainCollars,NominalPressure25
【原文标准名称】:搭接法兰.平肩公称压力25
【标准号】:DIN2655-1962
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:



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