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ASTM F 110-1988 用磨角和染色技术测定硅材料外延层或扩散层厚度的试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-23 18:42:09  浏览:8188   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:TestMethodforThicknessofEpitaxialorDiffusedLayersinSiliconbytheAngleLappingandStainingTechnique
【原文标准名称】:用磨角和染色技术测定硅材料外延层或扩散层厚度的试验方法
【标准号】:ASTMF110-1988
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1988
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:层;厚度;电子工程;硅;试验
【英文主题词】:electronicengineering;thickness;testing;layers;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:AmmoniumSulfate
【原文标准名称】:硫酸铵
【标准号】:ANSI/AWWAB302-1981
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:


MIL-DTL-8783/1A, DETAIL SPECIFICATION SHEET: CLAMP, HOSE, FLAT BAND DEG F (30 JUL 2008) [SUPERSEDES MS21920C]., This specification is approved for use by all Departments and Agencies of the Department of Defense. The requirements for acquiring the product described herein shall consist of this specification sheet and MIL-DTL-8783.

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